FEI申請針對電子顯微鏡的磁放大控制專利，使用一個或多個磁浸沒場來修改電子到電子檢測器上的軌跡

國家智慧財產權局資訊顯示，FEI公司申請一項名為“針對電子顯微鏡的磁放大控制”的專利，公開號CN121662688A，申請日期為2025年9月電子。

專利摘要顯示，本文提供了針對電子顯微鏡的磁放大控制的系統或技術電子。在各種實施例中，系統可包括電子顯微鏡，該電子顯微鏡使電子衍射穿過分析樣品，並使用一個或多個磁浸沒場來修改電子到電子檢測器上的軌跡。

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來源電子：市場資訊

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